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20.08.2013

Oberflächen-Messplatz ›Marsurf CWM 100‹

Mahr misst fast alle Oberflächen

Mit seinem optischen Oberflächen-Messgerät ›Marsurf CWM 100‹ will Mahr Maßstäbe in der optischen Messtechnik setzen: Das Gerät vereint die Konfokale Mikroskopie mit der Weißlicht-Interferometrie. Die Kombination dieser beiden physikalischen Messmethoden ermöglicht nun die Messung nahezu aller technischen und optischen Oberflächen und zielt auf ein sehr weites Anwendungsspektrum.

Oberflächen-Messplatz ›Marsurf CWM 100‹

Optische Messung fast aller Oberflächen: Der Oberflächen-Messplatz ›Marsurf CWM 100‹ kombiniert zwei physikalische Messmethoden.

Dank unterschiedlicher und für die entsprechende Messmethode geeigneter Objektive in einem Objektiv-Revolver kann der Nutzer einfach zwischen verschiedenen Vergrößerungen und Bildfeldgrößen wechseln. Ein motorisch angetriebener, CNC-gesteuerter X/Y-Tisch verfährt und positioniert den Prüfling automatisch. Dies macht auch Analysen größerer Flächen durch Bildzusammenfügungen (Stitching) rasch und präzise möglich.

Die Auswertung der Profile erfolgt über eine integrierte Software. Weiterhin ist die Auswertung mit der Topographie-Software ›Marsurf MfM‹ möglich.

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